硅晶片的檢測方法
摻雜
硅錠生長需要大塊的純凈多晶硅,將這些塊狀物連同少量的特殊III、V族元素放置在石英坩堝中,這稱為摻雜。加入的摻雜劑使那些長大的硅錠表現出所需要的電特性。普通的摻雜劑是硼、磷、砷和銻。因使用的摻雜劑不同,會成為一個P型或N型的硅錠(P型/硼,N型/磷、銻、砷)。
熔融
然后將這些物質加熱到硅的熔點——攝氏1420度之上。一旦多晶硅和摻雜劑混合物熔解,便將單晶硅種子放在熔解物的上面,只接觸表面。種子與要求的成品硅錠有相同的晶向。為了使摻雜均勻,子晶和用來熔化硅的坩堝要以相反的方向旋轉。一旦達到晶體生長的條件,子晶就從熔化物中慢慢被提起。生長過程開始于快速提拉子晶,以便使生長過程初期中子晶內的晶缺陷降到少。然后降低拖拉速度,使晶體的直徑增大。當達到所要求的直徑時,生長條件就穩(wěn)定下來以保持該直徑。因為種子是慢慢浮出熔化物的,種子和熔化物間的表面張力在子晶表面上形成一層薄的硅膜,然后冷卻。冷卻時,已熔化硅中的原子會按照子晶的晶體結構自我定向。硅錠完全長大時,它的初始直徑要比終晶圓片要求的直徑大一點。
切割
接下來硅錠被刻出一個小豁口或一個小平面,以顯示晶向。一旦通過檢查,就將硅錠切割成晶圓片。由于硅很硬,要用金剛石鋸來準確切割晶圓片,以得到比要求尺寸要厚一些的晶片。金剛石鋸也有助于減少對晶圓片的損傷、厚度不均、彎曲以及翹曲缺陷。
研磨
切割晶圓片后,開始進入研磨工藝。研磨晶圓片以減少正面和背面的鋸痕和表面損傷。同時打薄晶圓片并幫助釋放切割過程中積累的應力。
刻蝕和清洗
研磨后,進入刻蝕和清洗工藝,使用氫氧化鈉、乙酸和硝酸的混合物以減輕磨片過程中產生的損傷和裂紋。關鍵的倒角工藝是要將晶圓片的邊緣磨圓,徹底消除將來電路制作過程中破損的可能性。倒角后,要按照終用戶的要求,經常需要對邊緣進行拋光,提高整體清潔度以進一步減少破損。拋光(化學機械拋光,Chemical Mechanical Polishing) 生產過程中重要的工藝是拋光晶圓片,此工藝在凈間中進行。凈間從一到一萬分,這些數對應于每立方米空間中的顆粒數。這些顆粒在沒有控制的大氣環(huán)境下肉眼是不可見的。例如起居室或辦公室中顆粒的數目大致在每立方米五百萬個。為了保持潔凈水平,生產工人須穿能蓋住全身且不吸引和攜帶顆粒的潔凈服。在進入凈間前,工人須進入吸塵室內以吹走可能積聚的任何顆粒。硅晶片大多數生產型晶圓片都要經過兩三次的拋光,拋光料是細漿或者拋光化合物。多數情況下,晶圓片僅僅是正面拋光,而300毫米的晶圓片需要雙面拋光。除雙面拋光以外,拋光將使晶圓片的一面象鏡面一樣。拋光面用來生產電路,這面須沒有任何突起、微紋、劃痕和殘留損傷。
拋光過程分為兩個步驟,切削和終拋光。這兩步都要用到拋光墊和拋光漿。切削過程是去除硅上薄薄的一層,以生產出表面沒有損傷的晶圓片。終拋光并不去除任何物質,只是從拋光表面去除切削過程中產生的微坑。拋光后,晶圓片要通過一系列清洗槽的清洗,這一過程是為去除表面顆粒、金屬劃痕和殘留物。之后,要經常進行背面擦洗以去除小的顆粒。這些晶圓片經過清洗后,將他們按照終用戶的要求分類,并在高強度燈光或激光掃描系統(tǒng)下檢查,以便發(fā)現不必要的顆粒或其他缺陷。一旦通過一系列的嚴格檢測,終的晶圓片即被包裝在片盒中并用膠帶密封。然后把它們放在真空封裝的塑料箱子里,外部再用防護緊密的箱子封裝,以確保離開凈間時沒有任何顆粒和濕氣進入片盒。
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